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会员自从:2013/6/5
会员编号:103057
User ID:yuzhibo12349
【时间】:2006-09 - 2009-06
【学校】:惠来县第一中学
【专业】:物理
【专业描述】:
【时间】:2009-09 - 2012-06
【学校】:肇庆科技职业技术学院
【专业】:机电一体化
【专业描述】:
【工作时间】:2012-06 - 2013-05
【公司名称】:******(VIP/高级会员可见)
【所属行业】:其 他
【所在部门】:研发中心中试二组
【职位名称】:助理工程师
【工作描述】:1、陶瓷金刚石/CBN砂轮的日常生产管理及产品生产工艺(包括的工艺细则的编制)
2、协助工程师做一些研发辅助类工作(实验操作及模具设计)
3、数据管理(生产报表、冷压烧结记录、销售及库存记录的管理)
4、实验产品的销售记录及後期跟踪等
【工作时间】:2013年6月 - 2014年2月
【公司名称】:******(VIP/高级会员可见)
【所属行业】:工程/设计
【所在部门】:实验室工程部
【职位名称】:助理工程师
【工作描述】:实验室,主要从事芯片的失效分析,专业为个人及各级芯片研发机构提供技术服务,本人负责芯片的失效分析样品制备,具体实验项目如下(重点负责Decap和研磨、染色和SEM扫描)
取晶:以化学腐蚀的方法将晶粒(die)从封装中取出,以下一步拍照评估,层次去除或其他分析的进行。
拍照评估:取晶后将晶粒置于显微镜下,初步观察测量工艺制程(线宽,Metal层数和Poly层数),拍出
芯片上层概貌图,给出建议拍照倍率,整合上述内容生成评估报告。
去金球:移除植于液晶驱动芯片 Pad上的金凸块, 保持Pad完好无损, 以利后续分析或rebonding.
绑定:根据客户的绑定方案进行pad和lead-frame的铝线连接,以及封黑胶。
decap开封:即开盖/开帽, 指去除ic封胶, 同时保持芯片功能的完整无损, 保持die, bond pads, bond wires
乃至lead-frame不受损伤, 为下一步芯片失效分析实验做准备.
去封范围: 1、 普通封装2、 COB、BGA 3、陶瓷、金属等其它特殊封装
研磨:以世界一流的金相制样设备(美国 ALLIED)和专注耐心的手工经验,为客户提供精密制样方案。
SEM扫描:材料结构分析/缺陷观察 精确测量元器件尺寸
另外,还独立编写了decap操作细则,和芯片研磨教程;以及一些困难性制样的技术性解决。
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